+7 (812) 448-39-49
+7 (499) 703-02-56
 
   
 
Параметры окружающей среды
Температура, теплопроводность
Влажность сыпучих и твердых материалов
Газоанализаторы
Дозиметры
Дефектоскопы, толщиномеры
Яркость, освещенность, пульсация
Шум и вибрация
Измерители параметров электромагнитных полей
Блескомеры, рефрактометры, измерители цвета и шероховатости
Таймеры и cекундомеры
Внимание! Производитель оставляет за собой право изменять конструкцию, технические характеристики, внешний вид, комплектацию товара без предварительного уведомления.

Рентгенфлюоресцентный толщиномер Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ

FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ

FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ

Цена: По запросу

Производитель: Fischer Technology GmbH


Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем.

Измерительные системы FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ оснащены поликапиллярной рентгеновской оптикой для фокусировки рентгеновского излучения. Она обеспечивает необходимое разрешение при очень малом размере зоны измерения и высокую интенсивность возбуждения. Благодаря кремниевому дрейфовому детектору с большой площадью активной области эти приборы позволяют особенно эффективно измерять толщину очень тонких покрытий, а также определять следовые количества веществ в мелких структурах и компонентах. Чтобы можно было создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, системы XDV-μ оснащены четырьмя сменными первичными фильтрами. Благодаря измерительным камерам большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений на плоских объектах. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Быстродействующая программируемая XY-платформа позволяет легко выполнять последовательные измерения толщины покрытия и распределения элементов в составе.  

Дружественный к пользователю интерфейс, широко открывающаяся крышка с большим смотровым окном и органы управления на передней панели облегчают повседневную эксплуатацию прибора. Точное позиционирование образца обеспечивает видеокамера с оптикой высокого разрешения и тремя значениями коэффициента увеличения. С ее помощью можно получить предельно резкое изображение самых тонких проводов и мельчайших контактных площадок полупроводниковых компонентов, расположив зону измерения точно в заданном месте. Дополнительным подспорьем служит лазерный указатель, помогающий быстрее придать образцу нужное положение.  

Благодаря своим широким возможностям и универсальной конструкции приборы XDV-μ идеально подходят для НИОКР, аттестации технологических процессов и лабораторного применения, а также могут служить ценными инструментами обеспечения качества и контроля производственных процессов.  

Кроме того, предусмотрена возможность программирования и автоматического выполнения последовательных измерений на компонентах (например, выводных рамках), а также на множестве компонентов, в т. ч. разнотипных.  

Предназначен для автоматизированных измерений:

  • толщины покрытий на очень мелких деталях;
  • анализа состава сплавов очень мелких деталей;
  • анализа структуры слоев печатных плат (для размеров печатных плат до 610х610 мм);
  • анализа очень тонких покрытий (напр. золото на палладии толщиной до ≤ 0.1 мкм);
  • определения толщины и состава в сложных многослойных системах покрытий.

    Отличительные особенности

  • Улучшенная поликапиллярная рентгеновская оптика, позволяющая фокусировать рентгеновские лучи на сверхмалых исследуемых поверхностях.

  • Современный дрейфовый кремниевый детектор (SDD), гарантирующий высокую чувствительность обнаружения.
  • Программируемый измерительный столик с удлиняемым держателем для образцов для автоматических испытаний.
  • Нестандартные устройства для специального применения, в том числе:
    • модель XDV-μ LD, характеризующаяся большим измерительным расстоянием (минимум 12 мм).
    • модель XDV-μ LEAD FRAME, специально оптимизированная для измерения толщины покрытия на выводной рамке, например, Au / Pd / Ni / CuFe.
    • модель XDV-μ Wafer, оснащенная автоматической системой захвата кристаллической пластины.

Область применения

Для контактных площадок на печатных платах обычно используется система покрытий Au/Pd/Ni/Cu/PCB, а размеры исследуемых структур зачастую оказываются меньше 100 мкм. Толщина золотых и палладиевых покрытий находится, как правило, в пределах 10...100 нм. Приборы XDV-μ позволяют измерять толщину тонких золотых и палладиевых покрытий со сходимостью около 0,1 нм и 0,5 нм соответственно при ширине зоны измерения по половинному уровню интенсивности 20 мкм.  

Технические характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Al (13) до U(92).
  • Одновременный анализ до 24 слоев.
  • Кремниевый дрейфовый детектор (SDD) с охлаждающим элементом Пельтье.
  • Высокоточный программируемым XY-стол и электрический привод по оси Z.
  • Измерения проводятся сверху вниз.
  • Микрофокусная трубка с бериллиевым окном.
  • Поликапиллярная оптика.
  • Измерительное пятно диаметром 20 мкм.
  • Первичные фильтры: Ni 10 мкм; без фильтра; Al 1000 мкм; Al 500 мкм.
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
  • Цветной видеомикроскоп в области измерения.
  • Цифровое приближение 1x, 2x, 3x, 4x.
  • Используемая для измерения площадь: 600 x 600 мм.
  • Максимальные параметры измеряемого образца: вес до 5 кг, высота до 10 мм.
  • Размеры прибора (Ширина x глубина x высота): 670 x 885 x 660 мм
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
  • Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
  • Вес прибора – 95 кг
  • Прибор поставляется с компьютером и монитором; базовый комплект программного обеспечения - WinFTM BASIC + PDM, опционально - WinFTM SUPER.

Дополнительные принадлежности (по отдельной заявке):

  • WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
  • ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Толщиномеры
ADA PaintMeter 1500
ADA ZCT 777
ADA ZCT AUTO
Micro-TRI-gloss u
byko-test 3790
byko-test lite
CL 3
Константа МК4-ПД
CoF Condtrol
CoFN Condtrol
DIO 562
DIO-570
E124-M
ANOTEST YMP30-S
COULOSCOPE CMS STEP
COULOSCOPE CMS
DELTASCOPE FMP
DUALSCOPE FMP
DUALSCOPE MP0R
FISCHERSCOPE MMS PC2
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 510
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 515
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 520
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 550
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237
FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240
FISCHERSCOPE XAN
FISCHERSCOPE XDL 210
FISCHERSCOPE XDL 220
FISCHERSCOPE XDL 230
FISCHERSCOPE XDL 240
ISOSCOPE FMP
ISOSCOPE MP0R
PERMASCOPE MP0R
PHASCOPE PAINT
PHASCOPE PMP10 Duplex
PHASCOPE PMP10
Easy-Check FE
Easy-Check FN
MEGA-CHECK 80F-ST
TOP-CHECK FN
TOP-CHECK FN-B
PaintCheck FN
QuaNix 4500
10.0201
10.0202
10.0203
10.0306
10.0307
10.0308
10.0309
10.0401
10.0414
10.2302PLUS
WT-600S
WT-DS0510
byko-test MP0R
А1207
А1207С
А1208
А1209
А1270
А1550
БУЛАТ 1S
БУЛАТ 1М
БУЛАТ 1П
БУЛАТ 2
БУЛАТ 5
БУЛАТ 5У
БУЛАТ 5УП
ВT-201.01
ВT-201.02
ВТ-201
ВТ-501
ИТДП-11
ИТДП–11Т
Константа К5П
КОНСТАНТА К5
Константа К6Г
КОНСТАНТА К6
Константа К6Ц
Константа МК4-ИД
КОНСТАНТА МК4-ПД
Константа Ш1
Константа-нож
Константа М1
Константа МК3-ИД
Константа МК3-ПД
МТ-101
МТ-101М
МТ-201
МТ-201М
МТ1008
МТ2003
МТ2007
МТП-1
Образец ступенька
ТУ-1
ТУЗ-1
ТУЗ-2
Толщиномер ФН
Толщиномер Ф
Толщиномер Н
УД3-71
УДТ-40
УТ907
УТ9215
УТ-80М
УТ-82
УТ-93П
УТМ-МГ4
ФД3-1,8
ZCT 888
 
 
+7 (812) 448-39-49 +7 (499) 703-02-56 info@tech-test.ru
Новости | О компании | Документы | Сотрудничество | Контакты