+7 (812) 448-39-49
+7 (499) 703-02-56
 
   
 
Параметры окружающей среды
Температура, теплопроводность
Влажность сыпучих и твердых материалов
Газоанализаторы
Дозиметры
Дефектоскопы, толщиномеры
Яркость, освещенность, пульсация
Шум и вибрация
Измерители параметров электромагнитных полей
Блескомеры, рефрактометры, измерители цвета и шероховатости
Таймеры и cекундомеры
Внимание! Производитель оставляет за собой право изменять конструкцию, технические характеристики, внешний вид, комплектацию товара без предварительного уведомления.

Рентгенфлюоресцентный толщиномер Fischer FISCHERSCOPE XDL 230

FISCHERSCOPE XDL 230

FISCHERSCOPE XDL 230

Цена: По запросу

Производитель: Fischer Technology GmbH


Fischer FISCHERSCOPE XDL 230 Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

В приборах серии XDLM в качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, позволяющая выполнять измерения на мелких структурах и улучшающая возбуждение низкоэнергетических компонентов. Кроме того, эти приборы оборудуются автоматически сменяемыми диафрагмами и фильтрами, позволяющими гибко создавать оптимальные условия возбуждения при решении различных измерительных задач. В обеих сериях детектором служит пропорциональная счетная трубка. Увеличенная площадь детектора позволяет регистрировать достаточно высокие значения скорости счета даже при малых размерах зоны измерения, что обеспечивает хорошую сходимость результатов измерения.  

Приборы серий XDL и XDLM отличаются от XUL и XULM тем, что измерение в них производится снизу-вверх. Они спроектированы как удобные в использовании модульные настольные приборы, которые могут дооснащаться простой подставкой для образца, XY-платформами различных типов и вертикальными осями (Z) в зависимости от предъявляемых требований.  

В модификации с программируемой XY-платформой приборы серии XDL могут использоваться для последовательного контроля изделий в автоматическом режиме. С их помощью можно легко сканировать поверхности и проверять их на предмет однородности. Для простого и быстрого позиционирования образца обеспечивается автоматическое перемещение (выдвижение) XY-платформы в загрузочное положение при открытии крышки прибора, а зона измерения обозначается лазерным указателем. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений не только на плоских объектах, но и на крупных образцах сложной формы высотой до 140 мм. В приборах, оснащенных осью Z, расстояние измерения свободно устанавливается в диапазоне от 0 до 80 мм, что делает возможными измерения в выступах или на неровных объектах (с использованием метода DCM).

Область применения

Используемый метод фундаментальных параметров позволяет анализировать образцы как в твердой, так и в жидкой фазе, а также покрытия без калибровки.  Измерительная система XDLM часто используется для измерения покрытий Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/ Ni или Sn/Ni по основам из различных материалов (например, сплавам меди или железа), роль которых играют соединители и контакты. Зачастую рабочей частью изделия служат мелкие структуры, такие как наконечники или острия, для которых необходимо использовать очень малые диафрагмы или диафрагмы специальной формы, чтобы свести к минимуму влияние геометрии образца. Например, при выполнении измерений на продолговатых образцах для получения максимальной интенсивности используют щелевые диафрагмы

Технические характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Сl (17) до U(92)
  • Одновременный анализ до 24 элементов
  • Измерения проводятся сверху вниз
  • Детектор – пропорциональный счётчик, высокая скорость счёта
  • Рентгеновская трубка: микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 30, 40 или 50 кВ
  • Круглый коллиматор диаметром 0.3 мм (дополнительно: круглые коллиматоры 0.1 мм, 0,2 мм и щелевой 0,3 х 0,05 мм)
  • Минимальное измерительное пятно диаметром 0.2 мм; размер измерительного пятна зависит от расстояния измерения и установленного коллиматора, выводится на видеоизображение
  • Цветная видеокамера высокого разрешения для наблюдения в области измерения, направлена по оси первичного рентгеновского пучка; ручной и авто-фокус.
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
  • Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
  • Прибор поставляется с компьютером с операционной системой Windows и программным обеспечением FISCHER WinFTM LIGHT (дополнительно: WinFTM BASIC, PDM, SUPER).
  • Исполнение:  Платформа, перемещаемая вручную в плоскости XY
  • Максимальное перемещение в плоскости XY:  95 х 105 мм
  • Пространство для размещения образца  420 х 450 мм
  • Ось Z:  Электрическое управление
  • Перемещение по оси Z: 140 мм
  • Максимальный вес образца  20 кг
  • Максимальная высота образца    140 мм
  • Лазерный индикатор для точного размещения образца

Дополнительные принадлежности (по отдельной заявке):

  • SOFTWARE PDM (602-419).
  • SOFTWARE WinFTM SUPER + PDM (602-463)
  • ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Толщиномеры
ADA PaintMeter 1500
ADA ZCT 777
ADA ZCT AUTO
Micro-TRI-gloss u
byko-test 3790
byko-test lite
CL 3
Константа МК4-ПД
CoF Condtrol
CoFN Condtrol
DIO 562
DIO-570
E124-M
ANOTEST YMP30-S
COULOSCOPE CMS STEP
COULOSCOPE CMS
DELTASCOPE FMP
DUALSCOPE FMP
DUALSCOPE MP0R
FISCHERSCOPE MMS PC2
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 510
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 515
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 520
FISCHERSCOPE X-RAY GOLDSCOPE 550
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237
FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240
FISCHERSCOPE XAN
FISCHERSCOPE XDL 210
FISCHERSCOPE XDL 220
FISCHERSCOPE XDL 230
FISCHERSCOPE XDL 240
ISOSCOPE FMP
ISOSCOPE MP0R
PERMASCOPE MP0R
PHASCOPE PAINT
PHASCOPE PMP10 Duplex
PHASCOPE PMP10
Easy-Check FE
Easy-Check FN
MEGA-CHECK 80F-ST
TOP-CHECK FN
TOP-CHECK FN-B
PaintCheck FN
QuaNix 4500
10.0201
10.0202
10.0203
10.0306
10.0307
10.0308
10.0309
10.0401
10.0414
10.2302PLUS
WT-600S
WT-DS0510
byko-test MP0R
А1207
А1207С
А1208
А1209
А1270
А1550
БУЛАТ 1S
БУЛАТ 1М
БУЛАТ 1П
БУЛАТ 2
БУЛАТ 5
БУЛАТ 5У
БУЛАТ 5УП
ВT-201.01
ВT-201.02
ВТ-201
ВТ-501
ИТДП-11
ИТДП–11Т
Константа К5П
КОНСТАНТА К5
Константа К6Г
КОНСТАНТА К6
Константа К6Ц
Константа МК4-ИД
КОНСТАНТА МК4-ПД
Константа Ш1
Константа-нож
Константа М1
Константа МК3-ИД
Константа МК3-ПД
МТ-101
МТ-101М
МТ-201
МТ-201М
МТ1008
МТ2003
МТ2007
МТП-1
Образец ступенька
ТУ-1
ТУЗ-1
ТУЗ-2
Толщиномер ФН
Толщиномер Ф
Толщиномер Н
УД3-71
УДТ-40
УТ907
УТ9215
УТ-80М
УТ-82
УТ-93П
УТМ-МГ4
ФД3-1,8
ZCT 888
 
 
+7 (812) 448-39-49 +7 (499) 703-02-56 info@tech-test.ru
Новости | О компании | Документы | Сотрудничество | Контакты