Fischer FISCHERSCOPE XDL 240 Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

В приборах серии XDLM в качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, позволяющая выполнять измерения на мелких структурах и улучшающая возбуждение низкоэнергетических компонентов. Кроме того, эти приборы оборудуются автоматически сменяемыми диафрагмами и фильтрами, позволяющими гибко создавать оптимальные условия возбуждения при решении различных измерительных задач. В обеих сериях детектором служит пропорциональная счетная трубка. Увеличенная площадь детектора позволяет регистрировать достаточно высокие значения скорости счета даже при малых размерах зоны измерения, что обеспечивает хорошую сходимость результатов измерения.  

Приборы серий XDL и XDLM отличаются от XUL и XULM тем, что измерение в них производится снизу-вверх. Они спроектированы как удобные в использовании модульные настольные приборы, которые могут дооснащаться простой подставкой для образца, XY-платформами различных типов и вертикальными осями (Z) в зависимости от предъявляемых требований.  

В модификации с программируемой XY-платформой приборы серии XDL могут использоваться для последовательного контроля изделий в автоматическом режиме. С их помощью можно легко сканировать поверхности и проверять их на предмет однородности. Для простого и быстрого позиционирования образца обеспечивается автоматическое перемещение (выдвижение) XY-платформы в загрузочное положение при открытии крышки прибора, а зона измерения обозначается лазерным указателем. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений не только на плоских объектах, но и на крупных образцах сложной формы высотой до 140 мм. В приборах, оснащенных осью Z, расстояние измерения свободно устанавливается в диапазоне от 0 до 80 мм, что делает возможными измерения в выступах или на неровных объектах (с использованием метода DCM).

Область применения

Используемый метод фундаментальных параметров позволяет анализировать образцы как в твердой, так и в жидкой фазе, а также покрытия без калибровки.  Измерительная система XDLM часто используется для измерения покрытий Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/ Ni или Sn/Ni по основам из различных материалов (например, сплавам меди или железа), роль которых играют соединители и контакты. Зачастую рабочей частью изделия служат мелкие структуры, такие как наконечники или острия, для которых необходимо использовать очень малые диафрагмы или диафрагмы специальной формы, чтобы свести к минимуму влияние геометрии образца. Например, при выполнении измерений на продолговатых образцах для получения максимальной интенсивности используют щелевые диафрагмы

Технические характеристики

• Диапазон измеряемых элементов: от Сl (17) до U(92)
• Одновременный анализ до 24 элементов
• Измерения проводятся сверху вниз
• Детектор – пропорциональный счётчик, высокая скорость счёта
• Рентгеновская трубка: микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
• Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 30, 40 или 50 кВ
• Круглый коллиматор диаметром 0.3 мм (дополнительно: круглые коллиматоры 0.1 мм, 0,2 мм и щелевой 0,3 х 0,05 мм)
• Минимальное измерительное пятно диаметром 0.2 мм; размер измерительного пятна зависит от расстояния измерения и установленного коллиматора, выводится на видеоизображение
• Цветная видеокамера высокого разрешения для наблюдения в области измерения, направлена по оси первичного рентгеновского пучка; ручной и авто-фокус.
• Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
• Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
• Прибор поставляется с компьютером с операционной системой Windows и программным обеспечением FISCHER WinFTM LIGHT (дополнительно: WinFTM BASIC, PDM, SUPER).
• Исполнение:  Платформа, перемещаемая вручную в плоскости XY
• Максимальное перемещение в плоскости XY:  255 х 235 мм
• Скорость перемещения в плоскости XY:   ≤ 80 мм/с
• Точность позиционирования в плоскости XY: ≤ 0,01* мм
• Пространство для размещения образца  300 х 350 мм
• Ось Z:  Программное управление
• Перемещение по оси Z: 140 мм
• Максимальный вес образца       5 / 20** кг
• Максимальная высота образца    140 мм
• Лазерный индикатор для точного размещения образца

Дополнительные принадлежности (по отдельной заявке):

• SOFTWARE PDM (602-419).
• SOFTWARE WinFTM SUPER + PDM (602-463)
• ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).